【IC测试】整理下最近芯片测试过程中遇到的问题

IC板级验证问题梳理

验证背景：第一个问题现象：双核CPU在用JTAG扫描的时候只能扫到第一个核，第二个核和剩余CoreSight组件在读取ComponentID及PeriphID时失败。 排查步骤1（确定大致范围）排查步骤2（缩小范围）排查步骤3（验证猜想）第二个问题现象：在使用DS5内置的memory窗口读pmu模块寄存器时，memory窗口直接挂死，CPU挂死只能重新上电。 排查步骤1（确定大致范围）排查步骤2（缩小范围）排查步骤3（验证猜想）第三个问题现象：在配置完并使用pll时，发现无论怎么配置总线所使用的都是时钟是25MHz的主晶振XTAL，切到pll的输出时钟后CPU也没有挂死。其中2个pll的lock信号在复位后就是0，另1个pll的lock信号在复位后就是1，配置完后都无变化。